貴金屬檢測儀

我公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）、高頻紅外碳硫分析儀（CS）、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等。銷售的儀器設備應用于元素分析，化合物測試，電鍍鍍層厚度檢測等。

貴金屬檢測儀產品信息：

本儀器專門針對貴金屬測試，采用新的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用新Si-PIN探測器，其分辨率為149±5eV。

應用領域：

貴金屬（Pt、Au、Pd、Ag、Rh等）相關制品的生產、銷售、回收的檢測；

用于各種金屬合金（銅合金、鐵合金、不銹鋼、錫合金等）的成份分析。

功能：

開放式工作曲線，可以根據需求建立新工作區

經驗系數法和基本參數法相結合

測試樣品：各種不同形狀樣品，滿足大樣品測試需求

安全性能：迷宮式設計，*達到輻射安全指標

測試操作簡單，實現傻瓜式操作模式

報告模板多樣化，適應各種測試需求

儀器參數：

分析方法：基本參數法（定量）

分析元素范圍：Na-U,可同時分析26種元素

測量范圍：ppm-100%

測量時間：100－300s

度：0.1%（常量相對誤差）

分辨率：149±5eV

管壓：5KV—50KV

管流：50uA—1000uA

功率：350W

外形尺寸：640（W）*474（D）*412（H）（mm³）

樣品倉尺寸：300（W）*300（D）*100（H）（mm³）

重量：約48Kg

工作環境：15－30°C，相對濕度≤85%（不結露）

工作電源：AC220－240V，50/60Hz，350W

標準配置：

探測器： 2級半導體電制冷；探測器晶體厚度500μm；探測靈敏面積6mm²；Be窗厚度為1mil

壓電源：壓范圍0-50kV，功率50W，8h穩定性0.05%

X射線管：薄鈹窗側窗X射線管（Mo靶、Rh靶）

清攝像頭裝置

定位裝置

自動開蓋裝置

貴金屬檢測儀

儀器元素分析范圍：

可分析從從12號元素Mg到94號元素PU之間的所有元素。