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        金礦化驗金含量儀器

        簡要描述:金礦化驗金含量儀器
        用于測試金礦石中金銀等元素含量的ICP光譜儀,主要由高頻發生器、等離子體炬管、霧化器、分光系統與檢測器構成。高頻發生器產生能量使氬氣電離形成高溫等離子體,霧化器將樣品溶液轉化為氣溶膠送入其中。金銀等元素被激發后發射特征光譜,經分光系統分離,檢測器測量光譜強度,從而精準測定元素含量。

        • 產品型號:
        • 廠商性質:生產廠家
        • 更新時間:2025-05-22
        • 訪  問  量:307

        詳細介紹

        金礦化驗金含量儀器

        金礦石中金、鋅、鉍、鎘、鉻、砷和汞量的測定——電感耦合等離子體原子發射光譜法介紹

        電感耦合等離子體原子發射光譜法(ICP-AES)是一種高效、準確的多元素同時分析技術,在金礦石中多種元素測定方面具有顯著優勢。

        原理

        ICP-AES基于原子發射光譜原理。樣品經處理后,被引入電感耦合等離子體(ICP)焰炬中。在高溫(約6000 - 8000K)的ICP焰炬里,樣品中的元素被激發至高能態。當這些激發態的原子或離子返回基態時,會發射出特定波長的特征光譜。通過檢測這些特征光譜的波長和強度,即可對樣品中的元素進行定性和定量分析。不同元素具有好的發射光譜,從而實現對多種元素的同時測定。

        樣品處理

        金礦石樣品需先進行破碎、研磨,使其達到一定的粒度要求,以保證取樣的代表性。隨后采用合適的酸溶法進行分解,常用混合酸(如王水、鹽酸 - 硝酸等)在加熱條件下溶解樣品,使金、鋅、鉍、鎘、鉻、砷和汞等元素以離子形式進入溶液。對于一些難溶物質,可能還需采用熔融法等輔助手段進行分解。

        儀器設備

        主要設備為電感耦合等離子體原子發射光譜儀,它由高頻發生器、等離子體炬管、霧化器、分光系統和檢測器等部分組成。高頻發生器提供能量使工作氣體(通常為氬氣)電離形成等離子體;霧化器將樣品溶液轉化為氣溶膠并引入等離子體;分光系統將發射光譜按波長分散,檢測器測量各元素特征譜線的強度。

        分析過程

        在儀器分析過程中,通過標準曲線法定量。先配制一系列含有已知濃度目標元素的標準溶液,測定其發射光譜強度,繪制標準曲線。然后測定樣品溶液的光譜強度,根據標準曲線計算樣品中各元素的含量。

        優勢與應用

        ICP-AES具有分析速度快、靈敏度高、線性范圍寬、可同時測定多種元素等優點。在金礦石分析中,能快速、準確地測定金、鋅、鉍、鎘、鉻、砷和汞等多種元素的含量,為金礦石的勘探、開采和加工提供關鍵數據支持。在礦產資源評估、選礦工藝優化等方面,該方法能夠快速、準確地提供多元素分析結果,指導生產實踐。

        注意事項

        · 樣品處理過程中需確保樣品代表性,避免污染和損失。

        · 儀器校準和標準物質的使用對于保證分析結果的準確性至關重要。

        · 操作過程中需嚴格遵守實驗室安全規范,特別是涉及汞等有毒元素時,需采取適當的安全措施。

        ICP-AES以其高靈敏度、多元素同時分析和良好的精密度與準確度,在金礦石元素測定中發揮著重要作用,為地質勘探、礦產開發提供了有力的技術支持。


        下面是深圳市天創美科技有限公司銷售的用于測試金礦石中金、鋅、鉍、鎘、鉻、砷和汞等元素含量的ICP電感耦合等離子體原子發射光譜儀詳細介紹


        實驗室使用的儀器(ICP)簡介

        儀器性能特點:

          1、儀器自動化程度高

          儀器的自動化程度,除了電源開關外,所有操作均由軟件完成。智能化的軟件,可實時可對各項操作進行實時反饋及信息提示。

          2、安全可靠的固態射頻電源

          儀器采用的射頻電源,具有體積小、輸出效率高、輸出功率穩定,帶有水路、氣路及過載等各類安全保護功能,大大提升儀器的安全性,減小了儀器的故障率。

          3、全自動點火及匹配技術

          軟件可全自動一鍵點火,所有的參數設置變化,均自動完成。配合先進的自動匹配技術,點火成功率高,操作簡便。

          4、智能化的火焰監視功能

          儀器配置了靈敏度的光纖傳感器,可在儀器工作狀態下,實時監測火焰的工作情況,如遇異常熄火情況,可自動關閉儀器。

          5、超高分辨率的光路系統

          儀器配置了超高分辨率的4320刻線的進口光柵,配合*的光路調節技術,把普通儀器的分辨率約0、008nm降低至0、005nm以內,超高的分辨率保證了測試元素之間沒有相互干擾。

          6、精度的恒溫系統

          儀器整體光路采用精密恒溫系統保護,溫度的控制可根據客戶實驗室實際環境溫度實時設定,無需長時間不間斷的開可調,控溫精度≤±0、1℃,精密的恒溫系統保證了光路的穩定性,測試數據更穩定。

          7、高精度的氣流控制系統

          儀器工作中的等離子氣、輔助氣、載氣全部采用高精度的質量流量控制器(MFC)來控制,具有流量連續可調、輸出氣流的精度高,保證了測試數據的準確性。

          8、蠕動泵進樣裝置

          儀器配置了通道十二滾軸的高精度蠕動泵,可同時保證進樣的精度和防止積液,蠕動泵的轉速連續可調,滿足客戶的多種測試要求。

          9、觀測位置自動調節

          儀器采用二維的移動平臺設計,可通過軟件實時調節炬管的位置,通過反饋的信號值找到優化的觀測位置,以獲取較強的靈敏度,得出準確的測試效果。

          10、超低的使用成本

          儀器非工作狀態下儀器電源、冷卻水箱、氣體全部關閉,不產生任何費用,儀器工作即開即用,無需長時間的光路預熱。使用氬氣純度為99、99*%即可,無需99、999%的高純氬,成本節約至少三分之一。

          11、靈敏度的檢測器

          儀器配置了高靈敏度進口光電倍增管(PMT)作為檢測器,可針對不同的待測元素自動設置測試參數,以達到理想的檢測狀態,給出準確的測試結果。無需制冷,無需吹掃,使用壽命長。

          ICP-OES儀器技術參數:

          1、輸入電源:電壓交流220V,電流20A。

          2、采用CzernyTurner型光路,焦距為1000mm。

          3、離子刻蝕全息光柵,刻劃面積(80×110)mm。

          4、全自動一鍵點火,自動匹配,點火穩定、便捷。

          5、采用同心圓霧化器搭配旋流霧室,1ppmMn強度>1000000cps。

          6、分辨率(Mn257、610nm):≤0、005nm(4320刻線光柵);≤0、008nm(3600刻線光柵);≤0、015nm(2400刻線光柵)。

          7、波長范圍:190-460nm(4320刻線光柵);190-500nm(3600刻線光柵);190-800nm(2400刻線光柵)

          8、自主研發全固態射頻電源,輸出功率800-1600W,連續可調,電源效率大于65%,工作頻率27、12MHz,頻率穩定性<0、05%,功率輸出穩定性<0、05%。

        詳細指標參數如下:

        光柵刻線

        光柵:2400刻線

        光柵:3600刻線

        光柵:4320刻線

        波長

        范圍

        190nm-800nm

        190nm-500nm

        190nm-420nm

        示值誤差

        ±0.03nm

        ±0.03nm

        ±0.03nm

        重復性

        ≦0.005nm

        ≦0.005nm

        ≦0.005nm

        最小光譜帶寬

        Mn 257.610nm

        半高寬≦0.030nm

        Mn 257.610nm

        半高寬≦0.015nm

        Mn 257.610nm

        半高寬≦0.007nm

        檢出限/(ug/L)

        Zn(213.856nm)≦ 3.0

        Ni(231.604nm)≦ 10.0

        Mn(257.610nm)≦ 2.0

        Cr(267.716nm)≦ 7.0

        Cu(324.754nm)≦ 7.0

        Ba(455.403nm)≦ 1.0

        Zn(213.856nm)≦ 3.0

        Ni(231.604nm)≦ 10.0

        Mn(257.610nm)≦ 2.0

        Cr(267.716nm)≦ 7.0

        Cu(324.754nm)≦ 7.0

        Ba(455.403nm)≦ 1.0

        Zn(213.856nm)≦ 3.0

        Ni(231.604nm)≦ 10.0

        Mn(257.610nm)≦ 2.0

        Cr(267.716nm)≦ 7.0

        Cu(324.754nm)≦ 7.0

        Ba(455.403nm)≦ 1.0

        重復性

        3號溶液 RSD≤1.5%

        3號溶液 RSD≤1.5(%)

        3號溶液 RSD≤1.5(%))

        穩定性

        3號溶液 RSD≤2%

        3號溶液 RSD≤2%

        3號溶液 RSD≤2%

         

        說明:下表為檢定用溶液標準

        A.1 檢定波長用標準溶液

        元素

        Se

        Zn

        Mn

        Cu

        Ba

        Na

        Li

        K

        波長/nm

        196.026

        213.856

        257.610

        324.754

        455.403

        588.995

        670.784

        766.491

        濃度/(mg/L)

        10.0

        10.0

        5.00

        5.00

        5.00

        20.0

        10.0

        20.0

        注:基體為0.5mol/L硝酸

        1.光柵刻線為2400L/mm時波長檢定以上元素  

        2.光柵刻線為3600L/mm時波長檢定元素不含Li、Na、K。

              

                                    A.2 工作曲線系列標準溶液               單位:mg/L

        元素

        Zn

        Ni

        Mn

        Cr

        Cu

        Ba

        1號

        0

        0

        0

        0

        0

        0

        2號

        1.00

        1.00

        0.50

        1.00

        0.50

        0.50

        3號

        2.00

        2.00

        1.00

        2.00

        1.00

        1.00

        4號

        5.00

        5.00

        2.50

        5.00

        2.50

        2.50

        注:基體為0.5mol/L硝酸

        典型元素檢出限(μg/L):

        元素

        La

        Ce

        Pr

        Nd

        Sm

        Eu

        Gd

        Tb

        波長(nm)

        408.672

        413.765

        414.311

        401.225

        360.946

        381.967

        342.247

        350.917

        檢出限

        <3.0

        <5.0

        <5.0

        <5.0

        < 10.0

        < 1.0

        <10.0

        < 3.0

         

        元素

        Dy

        Ho

        Er

        Tm

        Yb

        Lu

        Y

        Sc

        波長(nm)

        353.170

        345.600

        337.271

        313.126

        369.419

        261.541

        371.030

        335.373

        檢出限

        <3.0

        <3.0

        <3.0

        <3.0

        <1.0

        <3.0

        <1.0

        <1.0

         

        元素

        Ta

        Nb

        Mn

        Mg

        B

        Zn

        Co

        Si

        波長(nm

        226.230

        313.340

        257.610

        279.553

        249.773

        13.856

        228.616

        251.611

        檢出限

        <5.0

        <5.0

        <3.0

        <1.0

        <10.0

        <3.0

        <3.0

        <10.0

         

        元素

        Ni

        Cd

        Fe

        Ca

        Mo

        V

        Be

        Ti

        波長(nm)

        232.003

        226.502

        239.562

        393.366

        281.615

        310.230

        313.041

        334.941

        檢出限

        <5.0

        <3.0

        <3.0

        <1.0

        <5.0

        <5.0

        <1.0

        <3.0

         

        元素

        Cu

        Cr

        Al

        Zr

        Ag

        Sr

        Au

        Pt

        波長(nm)

        324.754

        267.716

        396.152

        343.823

        328.068

        407.771

        242.795

        265.945

        檢出限

        <3.0

        <5.0

        <5.0

        <5.0

        <3.0

        <1.0

        <5.0

        <5.0

         

        元素

        Pd

        Ir

        Rh

        Ru

        Ba

        波長(nm)

        340.458

        224.268

        343.489

        240.272

        455.403

        檢出限

        <5.0

        <10.0

        <10.0

        <5.0

        <1.0

         

        元素

        As

        Sb

        Bi

        Hg

        Pb

        Ga

        Se

        波長(nm

        228.812

        206.833

        223.061

        253.652

        220.353

        294.364

        203.985

        檢出限

        ≤15

        ≤15

        ≤10

        ≤15

        ≤15

        ≤10

        ≤10

         

        元素

        Sn

        Te

        Ta

        Th

        Tl

        Re

        Ge

        波長(nm)

        242.949

        214.281

        226.230

        283.730

        276.787

        227.525

        209.426

        檢出限

        ≤20

        ≤10

        ≤5.0

        ≤10

        ≤30

        ≤5

        ≤15

         

        元素

        Os

        W

        Se

        Li

        Na

        K

        波長(nm)

        225.585

        207.911

        203.985

        670.784

        588.995

        766.490

        檢出限

        ≤1

        ≤10

        ≤30

        ≤3

        ≤20

        ≤60

         

         

         應用領域:

          1、冶金行業

          對產品成分的分析,可實時管控生產流程及工藝,確保最終產品的成分含量,以保證最終產品的質量要求。

          2、貴金屬行業

          貴金屬雜質元素含量直接影響到貴金屬的純度和性能,同時決定了貴金屬本身的價值,準確測定低含量雜質元素的含量,對貴金屬行業顯得極其重要。

          3、環保行業

          準確快速分析環境樣品(水質、土壤、大氣)中的元素組成,為人類的日常生活保駕護航。

          4、地礦行業

          準確快速分析礦產是元素含量,對礦山的前期開采,中期管控,后期修復等等都有嚴格的指導意義。

        5.其他行業




        金礦化驗金含量儀器

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