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        電鍍產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)儀

        簡要描述:電鍍產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)儀
        其他功能
        - 系統(tǒng)自校正取決于儀器條件和操作環(huán)境
        - 獨(dú)立操作控制平臺
        - 視頻參數(shù)調(diào)整
        - 儀器使用單根USB數(shù)據(jù)總線與外設(shè)連接
        - Multi-Ray自動輸出檢測報告(HTML、Excel、PDF)
        - 屏幕捕獲顯示監(jiān)視器、樣本圖片、曲線等.......
        - 數(shù)據(jù)庫檢查程序
        - 鍍層厚度測量程序保護(hù)。

        • 產(chǎn)品型號:
        • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
        • 更新時間:2025-04-23
        • 訪  問  量:1733

        詳細(xì)介紹

        電鍍產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)儀

        產(chǎn)品概述

        產(chǎn)品類型:能量色散X熒光光譜分析設(shè)備

        產(chǎn)品名稱:鍍層厚度分析儀

        型號:iEDX-150T

        原產(chǎn)商:韓國ISP公司

        產(chǎn)品優(yōu)勢及特征

        (一)產(chǎn)品優(yōu)勢

        1.鍍層檢測,檢測層數(shù)范圍1-5層;鍍層測量精度可達(dá)0.001μm。

        2.全自動操作平臺,平臺尺寸80X2*75X2*90(X*Y*Z);

        3.激光定位和自動多點(diǎn)測量功能;

        4.檢測的樣品可以為固體、液體或粉末;

        5.運(yùn)行及維護(hù)成本低、無易損易耗品,對使用環(huán)境相對要求低;

        6.可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無標(biāo)樣定性、半定量分析;

        7.操作簡單、精準(zhǔn)無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性,快速檢測(5-40秒依配置而定);

        8.頂級配置:SDD探測器、超長壽命X射線管、SPELLMAN高壓電源,儀器使用壽命長。

        9.超高分辨率:125±5電子伏特(電子伏特越低分辨率越高,檢測越精準(zhǔn),這是能譜儀一個非常關(guān)鍵的技術(shù)指標(biāo));

        10.可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件;

        11.軟件升級;

        12.無損檢測,一次性購買標(biāo)樣可使用;

        13.使用安心無憂,售后服務(wù)響應(yīng)時間24H以內(nèi),提供保姆式服務(wù);

        14.具有遠(yuǎn)程服務(wù)功能,在客戶請求的情況下,可遠(yuǎn)程進(jìn)行儀器維護(hù);

        (二)產(chǎn)品特征

        1.高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)

        2.計算機(jī)/MCA(多通道分析儀)

        2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)

        3.MultiRay.運(yùn)用基本參數(shù)法(FP)軟件,對樣品進(jìn)行精確的鍍層厚度分析,可對鍍液進(jìn)行定量分析。

        MTFFP(多層薄膜基本參數(shù)法)模塊進(jìn)行鍍層厚度及全元素分析

        勵磁模式50987.1DIN/ISO3497-A1

        吸收模式50987.1DIN/ISO3497-A2

        線性模式進(jìn)行薄膜鍍層厚度測量

        相對(比)模式無焦點(diǎn)測量DIN50987.3.3/ISO3497

        多鍍層厚度同時測量

        單鍍層應(yīng)用[如:Cu/ABS等]

        雙鍍層應(yīng)用[如:Ag/Pd/Zn,Au/Ni/Cu等]

        三鍍層應(yīng)用[如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]

        四鍍層應(yīng)用[如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

        合金鍍層應(yīng)[如:Ni-Zn/FeSn-Ni/ABSPd-Ni/Cu/ABS等]

        4.Multi-Ray.快速、簡單的定性分析的軟件模塊??赏瑫r分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運(yùn)算和配給。

        Multi-Ray金屬行業(yè)精確定量分析軟件。可同時分析8種元素。最小二乘法計算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計算方法進(jìn)行矩陣校正及內(nèi)部元素作用分析。金屬分析精度可達(dá)±0.02%,貴金屬(8-24Karat)分析精度可達(dá)±0.05kt

        Multi-Ray.對鍍液進(jìn)行分析。采用不同的數(shù)學(xué)計算方法對鍍液中的金屬離子進(jìn)行測定。含全元素、內(nèi)部元素、矩陣校正模塊。

        5.Multi-RayWINDOWS7軟件操作系統(tǒng)

        6.完整的統(tǒng)計函數(shù)均值、標(biāo)準(zhǔn)差、低/高讀數(shù),趨勢線,Cp和Cpk因素等

        8.自動移動平臺,用戶使用預(yù)先設(shè)定好的程序進(jìn)行自動樣品測量,自動多點(diǎn)分析。每個階段的文件有最多25個不同應(yīng)用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個階段文件包含*統(tǒng)計軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數(shù)、瞄準(zhǔn)樣品和拍攝、激光定位和自動多點(diǎn)測量功能。

        技術(shù)指標(biāo)

        多鍍層分析,1~5層;

        測試精度:0.001μm;

        元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U);

        測量時間:10~30秒;

        SDD探測器,能量分辨率為125±5eV;

        探測器Be窗0.5mil(12.7μm);

        微焦X射線管50kV/1mA,鉬,銠靶(高配微焦鉬靶);

        6個準(zhǔn)直器及多個濾光片自動切換;

        XYZ三維移動平臺,MAX荷載為5公斤;

        高清CCD攝像頭(200萬像素),準(zhǔn)確監(jiān)控位置;

        多變量非線性去卷積曲線擬合;

        高性能FP/MLSQ分析;

        儀器尺寸:618×525×490mm;

        樣品臺尺寸:250×220mm;

        樣品臺移動范圍:前后左右各80mm、高度90mm。

        1)、硬件參數(shù):

        1.X射線管:高穩(wěn)定性X射線管,使用壽命(工作時間>8,000小時)

        微焦點(diǎn)x射線管

        鈹窗口,光斑尺寸75um,油絕緣,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽。

        50kV,1mA。高壓和管流設(shè)定為應(yīng)用程序提供最佳性能。

        2.探測器:Si-Pin探測器

        能量分辨率:149±5eV

        3.濾光片/可選

        初級濾光片:Al濾光片,自動切換

        多準(zhǔn)直器:0.2,0.3,0.5mm可選

        測試點(diǎn)大?。簻?zhǔn)直器面積的1.5倍

        4.平臺:軟件程序控制步進(jìn)式電機(jī)驅(qū)動X-Y-Z軸移動大樣品平臺。

        激光定位、簡易荷載最大負(fù)載量為5公斤

        軟件控制程序進(jìn)行持續(xù)性自動測量

        5.樣品定位:顯示屏上顯示樣品鎖定、簡易荷載、激光定位及拍照功能

        6.分析譜線:

        -2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換)

        -基點(diǎn)改正(基線本底校正)

        -密度校正

        -Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數(shù)自動顯示

        7.視頻系統(tǒng):高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)

        -觀察范圍:3mmx3mm

        -放大倍數(shù):40X

        -射線方向:上照式

        -軟件控制取得高真圖像

        8.檢測厚度(正常指標(biāo)):

        -原子序數(shù)22-24:6~1000微英寸

        -原子序數(shù)25-40:4~1200微英寸

        -原子序數(shù)41-51:6~3000微英寸

        -原子序數(shù)52-82:2~500微英寸

        9.計算機(jī)、打印機(jī)(贈送)

        1)含計算機(jī)、顯示器、打印機(jī)、鍵盤、鼠標(biāo)

        2)含Windows7操作系統(tǒng)

        3)Multi-Ray軟件

        注:設(shè)備需要配備穩(wěn)壓電源,需另計。

        2)、光譜儀軟件功能

        1)軟件應(yīng)用

        單鍍層測量

        線性層測量,如:薄膜測量

        雙鍍層測量

        針對合金可同時進(jìn)行鍍層厚度和元素分析

        三鍍層測量。

        無電鍍鎳測量

        電鍍?nèi)芤簻y量

        吸收模式的應(yīng)用DIN50987.1/ISO3497-A2

        -勵磁模式的應(yīng)用DIN50987.1/ISO3497-A1

        基本參數(shù)法目前是鍍層領(lǐng)域最佳解決方案。

        2)軟件標(biāo)定方法

        自動標(biāo)定曲線進(jìn)行多層分析

        -使用無標(biāo)樣基本參數(shù)計算方法

        -使用標(biāo)樣進(jìn)行多點(diǎn)重復(fù)標(biāo)定

        -標(biāo)定曲線顯示參數(shù)及自動調(diào)整功能

        3)軟件校正功能:

        -基點(diǎn)校正(基線本底校正)

        -多材料基點(diǎn)校正,如:不銹鋼,黃銅,青銅等

        -密度校正

        4)軟件測量功能:

        -快速開始測量

        -快速測量過程

        -自動測量條件設(shè)定(光管電流,濾光片,ROI)

        5)自動測量功能(軟件平臺)

        -同模式重復(fù)功能(可實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)自動檢測)

        -確認(rèn)測量位置(具有圖形顯示功能)

        -測量開始點(diǎn)設(shè)定功能(每個文件中存儲原始數(shù)據(jù))

        -測量開始點(diǎn)存儲功能、打印數(shù)據(jù)

        -旋轉(zhuǎn)校正功能

        -TSP應(yīng)用

        -行掃描及格柵功能

        6)光譜測量功能

        -定性分析功能(KLM標(biāo)記方法)

        -每個能量/通道元素ROI光標(biāo)

        -光譜文件下載、刪除、保存、比較功能

        -光譜比較顯示功能:兩級顯示/疊加顯示/減法

        -標(biāo)度擴(kuò)充、縮小功能(強(qiáng)度、能量)

        7)數(shù)據(jù)處理功能

        -監(jiān)測統(tǒng)計值:平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值。

        -最小值、測量范圍,N編號、Cp、Cpk,

        -獨(dú)立曲線顯示測量結(jié)果。

        -自動優(yōu)化曲線數(shù)值、數(shù)據(jù)控件

        8)其他功能

        -系統(tǒng)自校正取決于儀器條件和操作環(huán)境

        -獨(dú)立操作控制平臺

        -視頻參數(shù)調(diào)整

        -儀器使用單根USB數(shù)據(jù)總線與外設(shè)連接

        -Multi-Ray自動輸出檢測報告(HTML、Excel、PDF)

        -屏幕捕獲顯示監(jiān)視器、樣本圖片、曲線等.......

        -數(shù)據(jù)庫檢查程序

        -鍍層厚度測量程序保護(hù)。

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