電感耦合等離子發射光譜儀

簡要描述：電感耦合等離子發射光譜儀
該系統廣泛應用于水質、土壤、大氣顆粒物、固廢、食品、動植物、食品接觸材料、化妝品、半導體、高純材料、礦產、石油化工、工業品、紡織等領域，且符合相關國家標準分析方法的要求。

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廠商性質：生產廠家
更新時間：2025-08-19
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ICP-電感耦合等離子體發射光譜儀

ICP檢測 ICP光譜儀 ICP-OES檢測儀 ICP電感耦合等離子體原子發射光譜儀 ICP發射光譜儀

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詳細介紹

我公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發射光譜儀（ICP）、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、液相色譜儀（LC）、能譜儀（EDS）、頻紅外碳硫分析儀（CS Analyzer）、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等。

電感耦合等離子發射光譜儀

實驗室使用的儀器（ICP)：

儀器性能特點：

1、儀器自動化程度高

儀器的自動化程度*，除了電源開關外，所有操作均由軟件完成。智能化的軟件，可實時可對各項操作進行實時反饋及信息提示。

2、安全可靠的固態射頻電源

儀器采用的射頻電源，具有體積小、輸出效率高、輸出功率穩定，帶有水路、氣路及過載等各類安全保護功能，大大提升儀器的安全性，減小了儀器的故障率。

3、全自動點火及匹配技術

軟件可全自動一鍵點火，所有的參數設置變化，均自動完成。配合*的自動匹配技術，點火成功率高，操作簡便。

4、智能化的火焰監視功能

儀器配置了靈敏度*的光纖傳感器，可在儀器工作狀態下，實時監測火焰的工作情況，如遇異常熄火情況，可自動關閉儀器。

5、超高分辨率的光路系統

儀器配置了超高分辨率的4320刻線的進口光柵，配合*的光路調節技術，把普通儀器的分辨率約0、008nm降低至0、005nm以內，超高的分辨率保證了測試元素之間沒有相互干擾。

6、精度*的恒溫系統

儀器整體光路采用精密恒溫系統保護，溫度的控制可根據客戶實驗室實際環境溫度實時設定，無需長時間不間斷的開可調，控溫精度≤±0、1℃，精密的恒溫系統保證了光路的穩定性，測試數據更穩定。

儀器技術參數：

1、輸入電源：電壓交流220V，電流20A。

2、采用CzernyTurner型光路，焦距為1000mm。

3、離子刻蝕全息光柵，刻劃面積（80×110）mm。

4、全自動一鍵點火，自動匹配，點火穩定、便捷。

5、采用同心圓霧化器搭配旋流霧室，1ppmMn強度＞1000000cps。

6、分辨率（Mn257、610nm）：≤0、005nm（4320刻線光柵）；≤0、008nm（3600刻線光柵）；≤0、015nm（2400刻線光柵）。

7、波長范圍：190-460nm（4320刻線光柵）；190-500nm（3600刻線光柵）；190-800nm（2400刻線光柵）

8、自主研發全固態射頻電源，輸出功率800-1600W,連續可調，電源效率大于65%，工作頻率27、12MHz，頻率穩定性＜0、05%，功率輸出穩定性＜0、05%。

詳細指標參數如下：

光柵刻線		光柵：2400刻線	光柵：3600刻線	光柵：4320刻線
波長	范圍	190nm-800nm	190nm-500nm	190nm-420nm
	示值誤差	±0.03nm	±0.03nm	±0.03nm
	重復性	≦0.005nm	≦0.005nm	≦0.005nm
最小光譜帶寬		Mn 257.610nm 半高寬≦0.030nm	Mn 257.610nm 半高寬≦0.015nm	Mn 257.610nm 半高寬≦0.007nm
檢出限/(ug/L)		Zn(213.856nm)≦ 3.0 Ni(231.604nm)≦ 10.0 Mn(257.610nm）≦ 2.0 Cr(267.716nm)≦ 7.0 Cu(324.754nm)≦ 7.0 Ba(455.403nm）≦ 1.0	Zn(213.856nm)≦ 3.0 Ni(231.604nm)≦ 10.0 Mn(257.610nm）≦ 2.0 Cr(267.716nm)≦ 7.0 Cu(324.754nm)≦ 7.0 Ba(455.403nm）≦ 1.0	Zn(213.856nm)≦ 3.0 Ni(231.604nm)≦ 10.0 Mn(257.610nm）≦ 2.0 Cr(267.716nm)≦ 7.0 Cu(324.754nm)≦ 7.0 Ba(455.403nm）≦ 1.0
重復性		3號溶液 RSD≤1.5%	3號溶液 RSD≤1.5（%）	3號溶液 RSD≤1.5（%））
穩定性		3號溶液 RSD≤2%	3號溶液 RSD≤2%	3號溶液 RSD≤2%

說明：下表為檢定用溶液標準

表A.1 檢定波長用標準溶液

元素	Se	Zn	Mn	Cu	Ba	Na	Li	K
波長/nm	196.026	213.856	257.610	324.754	455.403	588.995	670.784	766.491
濃度/（mg/L）	10.0	10.0	5.00	5.00	5.00	20.0	10.0	20.0
注：基體為0.5mol/L硝酸 1.光柵刻線為2400L/mm時波長檢定以上元素 2.光柵刻線為3600L/mm時波長檢定元素不含Li、Na、K。

表A.2 工作曲線系列標準溶液單位：mg/L

元素	Zn	Ni	Mn	Cr	Cu	Ba
1號	0	0	0	0	0	0
2號	1.00	1.00	0.50	1.00	0.50	0.50
3號	2.00	2.00	1.00	2.00	1.00	1.00
4號	5.00	5.00	2.50	5.00	2.50	2.50
注：基體為0.5mol/L硝酸

典型元素檢出限（μg/L）：

元素	La	Ce	Pr	Nd	Sm	Eu	Gd	Tb
波長(nm)	408.672	413.765	414.311	401.225	360.946	381.967	342.247	350.917
檢出限	<3.0	<5.0	<5.0	<5.0	< 10.0	< 1.0	<10.0	< 3.0

元素	Dy	Ho	Er	Tm	Yb	Lu	Y	Sc
波長(nm)	353.170	345.600	337.271	313.126	369.419	261.541	371.030	335.373
檢出限	<3.0	<3.0	<3.0	<3.0	<1.0	<3.0	<1.0	<1.0

元素	Ta	Nb	Mn	Mg	B	Zn	Co	Si
波長（nm）	226.230	313.340	257.610	279.553	249.773	13.856	228.616	251.611
檢出限	<5.0	<5.0	<3.0	<1.0	<10.0	<3.0	<3.0	<10.0

元素	Ni	Cd	Fe	Ca	Mo	V	Be	Ti
波長(nm)	232.003	226.502	239.562	393.366	281.615	310.230	313.041	334.941
檢出限	<5.0	<3.0	<3.0	<1.0	<5.0	<5.0	<1.0	<3.0

元素	Cu	Cr	Al	Zr	Ag	Sr	Au	Pt
波長(nm)	324.754	267.716	396.152	343.823	328.068	407.771	242.795	265.945
檢出限	<3.0	<5.0	<5.0	<5.0	<3.0	<1.0	<5.0	<5.0

元素	Pd	Ir	Rh	Ru	Ba
波長(nm)	340.458	224.268	343.489	240.272	455.403
檢出限	<5.0	<10.0	<10.0	<5.0	<1.0

元素	As	Sb	Bi	Hg	Pb	Ga	Se
波長(nm	228.812	206.833	223.061	253.652	220.353	294.364	203.985
檢出限	≤15	≤15	≤10	≤15	≤15	≤10	≤10

元素	Sn	Te	Ta	Th	Tl	Re	Ge
波長(nm)	242.949	214.281	226.230	283.730	276.787	227.525	209.426
檢出限	≤20	≤10	≤5.0	≤10	≤30	≤5	≤15

元素	Os	W	Se	Li	Na	K
波長(nm)	225.585	207.911	203.985	670.784	588.995	766.490
檢出限	≤1	≤10	≤30	≤3	≤20	≤60

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