OES火花光電直讀光譜化驗(yàn)儀器

OES火花光電直讀光譜化驗(yàn)儀器

能是目前市場上成功的金屬分析儀。現(xiàn)在推出的第五代繼續(xù)提分析性能，

降低運(yùn)行成本。   OES火花光電直讀光譜化驗(yàn)儀器

x提供三種配置的選擇：不同的波長范圍和不同的元素程序組合。金屬中所有重要元素都可以檢測，包括痕量C﹑P﹑S和N元素。多可設(shè)置十種基體（包括鐵基，鋁基，銅基，鎳基，鈷基，鈦基，鎂基，鋅基，錫基和鉛基）的幾十所元素的工作曲線。涵蓋了常見金屬中的各種非金屬和金屬元素的定量分析。

以運(yùn)行*為設(shè)計(jì)理念，x提供低維護(hù)需求和可靠性，以及便于操作。

• 火花臺

內(nèi)部容積的降低配合氬氣流優(yōu)化使氬氣消耗量減少了一半，同時(shí)降低了火花臺內(nèi)粉塵的沉

積。新氬氣節(jié)約模式更使得氬氣的消耗大大降低。低粉塵沉積使得火花臺清理工作大大降低。光學(xué)透鏡可以

不用工具而快速更換。

樣品夾可以各個(gè)方向移動(dòng)，配有安全接地電路，確保快速樣品切換。各種異型大尺寸工件可

以方便地測試。夾具用于小試樣分析。可以選配的小樣品分析工作曲線。

• ICAL智能邏輯標(biāo)準(zhǔn)化

升級版的專有ICAL標(biāo)準(zhǔn)化系統(tǒng)可以有效校正儀器，漂移和光強(qiáng)變化。

• 光學(xué)系統(tǒng)

x中*的光學(xué)系統(tǒng)和光學(xué)部件有效融合，經(jīng)過嚴(yán)格密封，確保光室內(nèi)部一塵不

染，雙光學(xué)系統(tǒng)設(shè)置使大波長范圍擴(kuò)展至140nm--- 670nm。采用了優(yōu)化的帕邢——龍格架

構(gòu)，光學(xué)系統(tǒng)的機(jī)械結(jié)構(gòu)異常堅(jiān)固，同時(shí)減少了內(nèi)部空間體積。

技術(shù)用于保障遠(yuǎn)紫外光譜范圍的測量。密封光室內(nèi)部在儀器出廠前充入純氣，保證遠(yuǎn)

紫外光譜的透過率。光學(xué)系統(tǒng)是純凈的，同時(shí)具有杰出的長期穩(wěn)定性。
- 全數(shù)字等離子發(fā)生器光源控制激發(fā)條件
- 堅(jiān)固的光學(xué)系統(tǒng)配備性能讀出系統(tǒng)
- 在設(shè)定波長范圍內(nèi)記錄全部光譜信息
- 小樣品分析夾具配有分析曲線
- 氬氣節(jié)約模式實(shí)現(xiàn)長時(shí)待機(jī)模式零氬氣消耗
- 自診斷系統(tǒng)實(shí)時(shí)電腦軟件圖顯.