測量銅合金儀器

測量銅合金儀器

我公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發射光譜儀（ICP）、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、液相色譜儀（LC）、能譜儀（EDS）、頻紅外碳硫分析儀（CS Analyzer）、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等。產品主要應用領域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中規定的有害物質（環保ROHS和鹵素檢測）：鉛Pb、砷Ａs、銻Sb、鋇Ｂa、鎘Cd、鉻Cr、Ｈg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、合金（銅合金、鋁合金、鎂合金等）、冶金（鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等）、地質采礦（各種礦石品位檢測設備）、塑料（無鹵測試等）、石油化工、嶺土、煤炭、食品、空氣、水質、土壤、、商品檢驗、質量檢驗、人體微量元素檢驗等等。總之銷售的儀器設備應用于元素分析，化合物測試，電鍍鍍層厚度檢測。

檢測鋼鐵元素成分含量（含各種合金，不銹鋼等），簡單方便的是X熒光光譜儀（手持式或臺式），精度更高穩定性更好的是實驗室使用的專業測試鋼材成分設備的是OES光電直讀光譜儀，介紹如下：

X射線熒光光譜分析儀：

X射線熒光光譜分析儀 應對有害元素檢測、油品分析、礦石分析、合金分析、電鍍鍍層、環境分析的產品，目前正服務于各大重要部門。

手持式儀器資料：

詳細信息

合金分析儀用途及應用領域
用于現場，無損，快速，準確分析檢測合金元素和合金pai號的識別。
•  合金材料鑒別（PMI）

•  廢舊金屬回收
   廢舊金屬的回收、再利用需要Delta合金分析儀，確保對大量繁雜多樣的合金種類及材料品質，進行現場快速準確的分析檢測。為購銷雙方在原材料交易時作出迅速、可靠的判定，

•  質量保證與質量控制（QA/QC）
   在金屬制造行業中，材料、半成品、成品的質量保證與質量控制（QA/QC）是*的，混料或使用不合格材料必給企業帶來損失。Delta合金分析儀被廣泛用于從小型金屬材料加工廠到大型的飛機制造商的各種制造業。已成為質量體系中材料確認、半成品檢驗、成品復檢的shou選儀器.
可分析的常見合金
鐵合金系列：不銹鋼、鉻/鉬合金鋼、低合金鋼、工具剛
鎳基合金系列：鎳合金、鎳/鈷超合金
鋁合金
鈦基合金系列
銅基系列：青銅、黃銅、銅鎳合金
鈷基合金系列
溫合金：
鉬鎢合金
混雜合金系列
儀器自帶384個標準合金pai號，用戶可自定義300多種合金等級pai號
分析模式及其所分析的元素范圍
元素分析范圍：從22號元素鈦到94號元素钚Pu。
FastID快速識別模式：384種標準合金pai號等級及客戶自定義300多種合金pai號等級。
(可以根據客戶需要增加其他元素)
du家專有的儀器接駁座

工作空閑時，用于放置儀器
• 內置校驗標準塊，可讓儀器即時標準化
• 可同時對儀器內置電池及備用電池充電，并顯示充電狀態
• 接駁座配備USB數據線，可將儀器與電腦連接交換數據

分析軟件
基于windows CE 的分析軟件
• 超大的圖標顯示，菜單式驅動

的技術性能
• 的X射線管，無壓電源線，無RF噪音干擾。更好的X射線屏蔽。
•  整機使用鋁合金固定和保護，頂部加開槽式散熱裝置，根本性解決XRF儀器存在的散熱問題。
•  工業級觸摸顯示屏與主機一體化密封設計，堅固耐磨，不易劃傷。
•  顯示屏采用白光顯示技術，強烈陽光下也能清晰顯示，且能耗低。
•  基于windows CE 6.0的Innov-x分析軟件。
•  超大的圖標顯示，菜單式驅動，使用和操作更輕松、更簡單。
•  更快的分析速度，2秒即顯示分析結果，可現場查看光譜。
•  現場獲取校準曲線。
•  采用多光束技術，使輕質元素的分析效果達到佳。
•  集成的氣壓計。
•  內置加速器，即節能，又可延長儀器使用壽命。
•  超大內存2G存儲器
•  浮點運算、CPU532M，ARM1136-MX31處理器
•  儀器可存儲電能，更換電池時無須關機。

臺式儀器資料：

性能特點
效超薄窗X光管，指標達到水平
新的數字多道技術，讓測試更快，計數率達到100000CPS，精度更。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較的峰背比
低能X射線激發待測元素，對Si、P等輕元素激發效果好
智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩譜裝置保證了儀器工作的*性
信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然
技術參數
產品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：30秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環境溫度：15℃-30℃
環境濕度：35%-70%
標準配置
效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數字多道技術
光路增強系統
信噪比電子線路單元
內置清晰攝像

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