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        金屬含量分析儀器

        簡要描述:金屬含量分析儀器
        分析金屬成分儀器設備
        能測試Mg, Al, Si, P等元素,能識別全系列的39種鋁合號,測試合金種類鐵合金系列、鎳基合金系列、鈷基合金系列、鈦基合金系列、銅基系列、6. 溫合金、鉬鎢合金、鋁合金、混雜合金系列等
        X射線光譜金屬成分分析儀已經被廣泛應用于地質、采礦、金屬元素(合金材料、鋼鐵成分)、土壤、環境、考古、木材、電子、醫藥、環保等等

        • 產品型號:
        • 廠商性質:生產廠家
        • 更新時間:2025-08-18
        • 訪  問  量:2091

        產品分類

        Product classification
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        詳細介紹

        我公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發射光譜儀(ICP)、原子熒光光譜儀(AFS)、原子吸收分光光度計(AAS)、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)、液相色譜儀(LC)、能譜儀(EDS)、頻紅外碳硫分析儀(CS Analyzer)、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產品主要應用領域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規定的有害物質:鉛Pb、砷As、銻Sb、鋇Ba、鎘Cd、鉻Cr、Hg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(銅合金鋁合金鎂合金等)、冶金(鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等)、地質采礦(各種礦石品位檢測設備)、塑料(無鹵測試等)、石油化工、嶺土、煤炭、食品、空氣、水質、土壤、、商品檢驗、質量檢驗、人體微量元素檢驗等等。總之銷售的儀器設備應用于元素分析,化合物測試,電鍍鍍層厚度檢測。

        檢測鋼鐵元素成分含量(含各種合金,不銹鋼等),簡單方便的X熒光光譜儀,精度穩定性更好的是實驗室使用的專業測試鋼材成分設備的是OES光電直讀光譜儀,介紹如下:

        金屬含量分析儀器

        儀器介紹:

          手持式儀器簡介:

        合金分析儀技術規格

        項目

        (標準型)合金分析儀Innov-X Delta

        尺寸與重量

        外形尺寸:245x250x88mm;重量<1.5KG

        環境要求

        環境濕度0~95%;環境工作溫度-20 ~50℃;亮黃 黑色、銀白色相間

        激發源

        大功率微型直板電子X射線管,內置15kV~40kV多段可選擇的電壓;無壓電纜、無射頻噪聲、更好的X射線屏蔽、更好的散熱。

        射線管靶材

        AuAg

        X射線探測器

        標準型SDD硅漂移探測器

        濾波器

        八個濾光片可自動切換

        光譜束

        兩個光束段,不同的元素采用不同的電壓與電流,產生好的分析效果

        智能接駁座

        可對額外電池充電、儀器內置電池同時充電并顯示充電進度,接駁座能連接電腦交換數據,可讓儀器即時標準化,儀器隨時待命狀態

        開機換電

        儀器即使在開機狀態下也可更換電池而并不需要關機,時間可達30

        標準化

        儀器開機并不需要標準化,可以直接測試,標準化僅僅是可選項

        平衡性

        儀器具有很好的平衡性,在測試時能立于工作臺上,無需手扶,一鍵式按鈕設計,即使長時間操作也無疲勞感

        散熱性

        超過1/3的機體采用鋁合金外殼設計,儀器頂部有的槽式散熱裝置,整個體系使散熱非常有效,延長機器壽命, X射線分析儀工作更加更穩定,從而故障率極低

        顯示器固定方式

        一體機設計,整機連體構造,PDA不可拆卸,可防塵,防霧,防水,故障低

        數據顯示

        百分比(%)顯示元素含量,元素顯示順序可按能量、濃度值、用戶自定義等方式排序,可統計多次測試的平均值,可接臺式電腦顯示;儀器在測試過程中同步動態顯示化學成份

        數據存儲

        ROM128MRAM128M2G SD卡,可存儲205000組數據與光譜

        數據傳輸

        USB電纜、無線藍牙進行數據傳輸,文件可采用TXT,EXCEL格式輸出。

        處理器CPU

        532MHz CPU FreescalARM1136-MX31處理器,浮點運算方式,速度大幅提

        系統CPU外設

        采用USB總線, I2C,GPIO, 藍牙, 加速器,實時的時鐘芯片,微型SD 存儲卡 (可存儲2GB 數據)GPIO 條帶連接到扳機和PSM

        操作系統

        用戶化 windows CE 6.0系統

        Alloy Beam1模式

        , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb21元素

        Alloy Beam2模式

        , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, W, Hf, Ta, Re, Pb, Bi, Zr, Nb, Mo, Ag, Sn, Sb PLUS Mg, Al, Si, P25元素

        合金建模方式

        基本參數法,儀器在分析合金前不需要預先知道合金種類,實現全自動分析

        合金種類

        鐵合金系列、鎳基合金系列、鈷基合金系列、鈦基合金系列、銅基系列、6. 溫合金、鉬鎢合金、鋁合金、混雜合金系列

        合號

        內置合號351種,用戶可自定義300種合號,能同時分析的合金651種,能分析的合金達萬種,

        小樣品測試

        不規則或小型樣品的補償性測試方法能檢測很小或很少的樣品,如直徑為0.04mm的細絲也能立即辨認

        鋁合金

        能測試Mg, Al, Si, P等元素,能識別全系列的39種鋁合

        直讀光譜儀簡介:

        這款CMOS光譜儀,既包含了CCD光譜儀的全譜特性,又具備PMT光譜儀對非金屬元素的極低檢出限,整機設計合理,操作簡單易學,具有數據,長期穩定性好等優點。

        應用領域

        冶金、鑄造、機械、科研、商檢、汽車、石化、造船、電力、航空、核電、金屬和有色冶煉、加工和回收工業中的各種分析。

        可檢測基體

        鐵基、銅基、鋁基、鎳基、鈷基、鎂基、鈦基、鋅基、鉛基、錫基、銀基。

        主要技術參數

        v  光學系統:帕型-龍格 羅蘭圓全譜真空型光學系統

        v  波長范圍:140~680nm

        v  光柵焦距:401mm

        v  探 測 器:性能CMOS陣列/CCD陣列

        v  光源類型:數字光源,能預燃技術(HEPS)

        v  放電頻率:100-1000Hz

        v  放電電流:大500A

        v  工作電源:AC220V 50/60Hz 1000W

        v  檢測時間:依據樣品類型而定,一般20S左右

        v  電極類型:鎢材噴射電極

        v  分析間隙:4mm

        v  其他功能:真空,溫度,軟件自動控制;壓力,通訊監測

        主要特點

        v  性能光學系統

        采用精度的CMOS元件可測定非金屬元素如C、P、S、As、B、N以及各種金屬元素含量;測定結果,重復性及長期穩定性hao。

        v  自動光路校準

        v  插拔式透鏡設計

        真空光學系統采用*的入射窗與真空隔離,可在真空系統工作狀態下進行操作,光學透鏡采用插拔式透鏡結構,日常清洗維護方便快捷。

        v  真空防返油技術

        v  開放式激發臺

        開放式激發臺機靈活的樣品夾設計,以滿足客戶現場的各種形狀大小的樣品分析;配合使用小樣品夾具,線材低分析可達到3mm。

        v  噴射電極技術

        v  集成氣路模塊

        v  數字化激發光源

        v  速數據采集

        儀器采用性能CMOS檢測元件,具有每塊CMOS單獨超速數據采集分析功能,并能自動實時監測控制光室溫度、真空度、氬氣壓力、光源、激發室等模塊的運行狀態。

        v  以太數據傳輸

        v  多基體分析

        v  軟件中英文系統

        儀器軟件操作簡單,*兼容于Windows7/8/10系統。

        金屬含量分析儀器

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