礦石化學(xué)成分含量分析儀器

我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長(zhǎng)色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計(jì)（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質(zhì)譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質(zhì)譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）、高頻紅外碳硫分析儀（CS）等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測(cè)等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中規(guī)定的有害物質(zhì)：鉛Pb、砷Ａs、銻Sb、鋇Ｂa、鎘Cd、鉻Cr、Ｈg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、合金（銅合金、鋁合金、鎂合金等）、冶金（鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等）、地質(zhì)采礦（各種礦石品位檢測(cè)設(shè)備）、塑料（無鹵測(cè)試等）、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質(zhì)、土壤、環(huán)境保護(hù)、香精香料、紡織品、醫(yī)藥、商品檢驗(yàn)、質(zhì)量檢驗(yàn)、醫(yī)療器械重金屬含量測(cè)試、人體微量元素和化合物檢驗(yàn)等等。銷售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析，化合物測(cè)試，電鍍鍍層厚度檢測(cè)等。現(xiàn)在對(duì)于礦石檢測(cè)儀器進(jìn)行介紹。

礦石化學(xué)成分含量分析儀器

概況

用于礦業(yè)和地球化學(xué)行業(yè)的DELTA手持式XRF分析儀可以即時(shí)得到檢測(cè)結(jié)果，從而有助于決定整個(gè)程序中的下一步操作：勘探、礦石定級(jí)/處理控制、環(huán)境的可持續(xù)性。可在現(xiàn)場(chǎng)探測(cè)金屬、礦物質(zhì)和污染物質(zhì)。GPS-GIS-XRF用于即時(shí)繪制金屬分布映射圖，既節(jié)省時(shí)間又節(jié)省成本

jian金屬：銅（Cu）、鉛（Pb）、鋅（Zn）、銀（Ag）、鉬（Mo）

金，包含探途元素和巖石地球化學(xué)成份

鈾和/或稀土元素；探途元素

硫化鎳和紅土型鎳礦床

鐵礦石和鋁礬土

稀土元素（REE），如：鑭（La）、鈰（Ce）、鐠（Pr）和釹（Nd）

稀土探途元素，包含釔（Y）、釷（Th）和鈮（Nb）

磷酸鹽和碳酸鉀

淺成熱液的錫、鎢、鉬、鉍、銻礦床

鈦鋯礦砂<

煤、油、氣

-- 錄井和痕量元素的化學(xué)成份

便攜式XRF分析儀在勘探、采礦和冶金處理領(lǐng)域的商業(yè)實(shí)用案例

礦產(chǎn)勘探

Innov-X分析儀具有以下性能：

在早期的地區(qū)勘察和繪制地圖階段，可對(duì)巖石、碎片、土壤、沉積物等樣本進(jìn)行化學(xué)成份的定性分析。

實(shí)時(shí)調(diào)整采樣和繪圖項(xiàng)目，以佳方式使用勘探預(yù)算經(jīng)費(fèi)。

在開發(fā)前途的地區(qū)提采樣的密度。

在鉆孔階段從土地中取出樣本時(shí)，可以對(duì)空心、RAB（爆破樣本）、RC（反循環(huán)鉆進(jìn)樣本）和鉆石芯等樣本進(jìn)行分析。

用于采礦勘探業(yè)的DELTA手持式XRF分析儀

插于土中支架上的DELTA

采礦及冶金處理

在露天礦場(chǎng)對(duì)鉆孔樣本進(jìn)行即時(shí)篩檢，減少了對(duì)采礦實(shí)驗(yàn)室的依賴，從而在搬運(yùn)礦石/廢料方面提了效率。

在某些環(huán)境中，通過制定使用DELTA便攜式XRF分析儀的采樣和分析方法，可以提對(duì)地下礦石進(jìn)行級(jí)別控制的能力。在世界上眾多的地下礦場(chǎng)中，Olympus的XRF分析儀每天都在幫助礦產(chǎn)勘探人員做出正確的決定。

在礦場(chǎng)應(yīng)用中，通常需要對(duì)具體的樣本和基質(zhì)進(jìn)行特別校準(zhǔn)。DELTA分析儀使用多種校準(zhǔn)模型可以極為方便地進(jìn)行設(shè)置和操作，從而可保證在實(shí)際檢測(cè)分析過程中發(fā)揮出佳性能，甚至在富于挑戰(zhàn)性的輕元素（鎂、鋁、硅）分析中，也能獲得的數(shù)據(jù)。

用于級(jí)別控制的DELTA

礦石化學(xué)成分含量分析儀器