合金光譜檢測儀

合金光譜檢測儀

我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計(jì)（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質(zhì)譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質(zhì)譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）、高頻紅外碳硫分析儀（CS）、礦漿載流在線采樣儀（OSA）等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中規(guī)定的有害物質(zhì)：鉛Pb、砷Ａs、銻Sb、鋇Ｂa、鎘Cd、鉻Cr、Ｈg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、合金（銅合金、鋁合金、鎂合金等）、冶金（鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等）、地質(zhì)采礦（各種礦石品位檢測設(shè)備）、塑料（無鹵測試等）、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質(zhì)、土壤、環(huán)境保護(hù)、香精香料、紡織品、醫(yī)藥、商品檢驗(yàn)、質(zhì)量檢驗(yàn)、人體微量元素和化合物檢驗(yàn)等等。銷售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析，化合物測試，電鍍鍍層厚度檢測等。

檢測鋼鐵元素成分含量（含各種合金，不銹鋼等），簡單方便的是X熒光光譜儀，精度更高穩(wěn)定性更好的是實(shí)驗(yàn)室使用的專業(yè)測試鋼材成分設(shè)備的是OES光電直讀光譜儀，介紹如下：

X射線熒光光譜分析儀：

X射線熒光光譜分析儀 應(yīng)對有害元素檢測、油品分析、礦石分析、合金分析、電鍍鍍層、環(huán)境分析的產(chǎn)品，目前正服務(wù)于各大重要部門。

X系列分析儀器的特點(diǎn)

*手持式XRF分析儀站在研發(fā)者和使用者的角度，在積累的多年的技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)基礎(chǔ)上開發(fā)出發(fā)新一代手持XRF分析，一經(jīng)推出反響熱烈，小型，輕便、計(jì)數(shù)率高，速度快（2秒），以其人性化的設(shè)計(jì)，操作簡單, 快速識別, 交互體驗(yàn)極簡，技術(shù)*等優(yōu)點(diǎn)迅速得到客戶群認(rèn)可, 并經(jīng)過多品牌性能評估多層級篩選比較,成功入圍各大石油公司及其檢測單位采購名錄。

儀器在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)過程中，圍繞產(chǎn)品小巧，重量輕，方便攜帶，速度快，精度高，好用耐用等6大設(shè)計(jì)理念。具體體現(xiàn)如下：

小巧重量輕

*手持式XRF分析儀是目前市面上功能正常小巧輕的手持式XRF分析儀，是現(xiàn)場檢驗(yàn)理想的分析工具。

好用省力

儀器采用*的對稱式設(shè)計(jì)，幫助使用者更輕易的平衡好儀器，節(jié)省體力。

手柄部分小巧，與手掌虎口形狀貼合的流線型設(shè)計(jì)理念，使得哪怕是手比較小的女性使用者在抓握儀器時(shí)也會有很舒服的使用體驗(yàn)。

底部四方形的設(shè)計(jì)理念使得儀器能輕易穩(wěn)當(dāng)立于桌面上，便于使用者抓握儀器，保護(hù)使用者手指不被樣品傷到。

儀器底部和主體尾部在一條直線上，測小樣品時(shí)可以直接將儀器測試窗口朝上，將樣品直接放在測試窗口測試，不需要單獨(dú)購買測試支架。

耐用

儀器設(shè)計(jì)符合IP54三防要求，密封性好，*的散熱理念使得儀器在高溫環(huán)境下也可以正常工作。

所有*手持式XRF分析儀都標(biāo)配探測器快門保護(hù)裝置，大限度降低儀器在測試過程中被不規(guī)則樣品損傷重要元器件的幾率。

更合理的散熱理念

所有的手持XRF儀器工作原理相同，結(jié)構(gòu)相似，運(yùn)行一段時(shí)間后都會產(chǎn)生熱量，有的儀器采用下面預(yù)留空間或安裝風(fēng)扇的方式來幫助散熱；有的儀器采用頂部散熱槽的方式幫助儀器散熱；因?yàn)閮x器外殼材料不同及散熱原理不同，采用塑料外殼及頂部散熱或下部散熱的儀器，內(nèi)部熱量不會馬上傳導(dǎo)至外殼上，開機(jī)一段時(shí)間后不會明顯覺得儀器燙。但是在工作相同時(shí)間后，同時(shí)關(guān)掉儀器，采用金屬材料導(dǎo)熱，將儀器內(nèi)部熱量散發(fā)至空氣中的* 儀器降溫明顯比其它儀器要快，這說明* XRF 儀器的散熱效率要比較其它儀器的散熱效率高得多。

儀器內(nèi)部熱量都傳導(dǎo)至儀器外殼上，可以更好的保護(hù)儀器內(nèi)部的電子元器件，延長電子元器件的壽命。

* 所有的XRF儀器在出廠前都有放入高溫倉測試，模擬高溫工作環(huán)境，只有通過測試的儀器才會發(fā)給客戶。

技術(shù)確保*結(jié)果

* 所有的XRF儀器為新的研發(fā)成果，采用的都是市面上技術(shù)*的元器件。* XRF Si-pin 探測器 LOD值相當(dāng)于SDD 探測器的值。

更快的檢測速度極大的提高工作效率，更長的使用壽命

的設(shè)計(jì)理念結(jié)合市面上技術(shù)進(jìn)的元器件，使* 所有的XRF儀器擁有好的檢測速度。樣品量相當(dāng)?shù)那闆r下，會擁有更長的使用壽命；單位時(shí)間內(nèi)，可以分析更多的樣品，進(jìn)一步降低擁有成本。

遠(yuǎn)程操作

可選配遠(yuǎn)程操作應(yīng)用程序，通過手機(jī)控制儀器，同時(shí)通過手機(jī)共享測試結(jié)果（目前限于土壤重金分析應(yīng)用）

操作簡單

* 所有的XRF儀器運(yùn)行用戶熟悉的安卓操作系統(tǒng)結(jié)合*簡單直觀的用戶界面，使儀器的操作變得非常簡單。可以通過藍(lán)牙或無線與電腦及打印機(jī)連接，分享與打印測試結(jié)果

通過USB閃存驅(qū)動盤、Wireless LAN或藍(lán)牙完成的數(shù)據(jù)導(dǎo)出操作非常簡單。

在任何光線條件下，觸摸顯示屏都具有清晰、明亮、可讀的特性。

嵌入式GPS功能可以將*的GPS坐標(biāo)與結(jié)果一起存儲，以便建立文檔并繪制元素位置的映射圖。

標(biāo)配高清攝像頭；將帶有XRF數(shù)據(jù)的圖像與GPS坐標(biāo)綜合在一起使用。

簡潔的報(bào)告制作和歸檔操作，具有好的追溯數(shù)據(jù)到野外的性能。

用戶可以輕易添加客戶*的元素和牌號.

所有以采購合同為準(zhǔn)

火花光電直讀光譜儀器（OES）簡介：

直讀光譜分析主要特點(diǎn)：

1、可測定包括痕量碳（C），磷（P）,硫（S）元素,適用于多種金屬基體，如：鐵基，鋁基，銅基，鎳基，鉻基，鈦基，鎂基，鋅基，錫基和鉛基。全譜技術(shù)覆蓋了全元素分析范圍，可根據(jù)客戶需要選擇通道元素；

2、分析速度快捷，20秒內(nèi)測完所有通道的元素成分。針對不同的分析材料，通過設(shè)置預(yù)燃時(shí)間及標(biāo)線，使儀器用短的時(shí)間達(dá)到優(yōu)的分析效果；

3、光學(xué)系統(tǒng)采用真空恒溫光室， 激發(fā)時(shí)產(chǎn)生的弧焰由透鏡直接導(dǎo)入真空光室，實(shí)現(xiàn)光路直通,消除了光路損耗，提高檢出限，測定結(jié)果準(zhǔn)確，重現(xiàn)性及長期穩(wěn)定性；

4、特殊的光室結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，使真空室容積更小；

5、自動光路校準(zhǔn)，光學(xué)系統(tǒng)自動進(jìn)行譜線掃描，確保接收的正確性，免除繁瑣的波峰掃描工作。儀器自動識別特定譜線，與原存儲線進(jìn)行對比，確定漂移位置，找出分析線當(dāng)前的像素位置進(jìn)行測定；

6、開放式的電極架設(shè)計(jì)，可以調(diào)整的樣品夾，便于各種形狀和尺寸的樣品分析；

7、工作曲線采用國際標(biāo)樣，預(yù)做工作曲線，可根據(jù)需要延伸及擴(kuò)展范圍，每條曲線由多達(dá)幾十塊標(biāo)樣激發(fā)生成，自動扣除干擾；

8、HEPS數(shù)字化固態(tài)光源，適應(yīng)各種不同材料 ；

9、固態(tài)吸附阱，防止油氣對光室的污染，提高長期運(yùn)行穩(wěn)定性；

10、銅火花臺底座，提高散熱性及堅(jiān)固性能；

11、合理的氬氣氣路設(shè)計(jì)，使樣品激發(fā)時(shí)氬氣沖洗時(shí)間縮短，為用戶節(jié)省氬氣；

12、采用鎢材料電極，電極使用壽命更長，并設(shè)計(jì)了電極自吹掃功能，清潔電極更加容易；

13、高性能DSP及ARM處理器，具有高速數(shù)據(jù)采集及控制功能并自動實(shí)時(shí)監(jiān)測光室溫度、真空度、氬氣壓力、光源、激發(fā)室等模塊 的運(yùn)行狀況；

14、儀器與計(jì)算機(jī)之間采用以太網(wǎng)連接，抗干擾性能好，外部計(jì)算機(jī)升級與儀器配置無關(guān)，使儀器具有更好的適用性；

15、核心器件全部，保證了儀器好品質(zhì)。

合金光譜檢測儀